簡要描述：EDX 8000H真空型X熒(ying)(ying)光(guang)光(guang)譜儀具有制樣簡單、分析(xi)(xi)速度(du)快、分析(xi)(xi)含量范圍寬、重(zhong)現(xian)性好(hao)、準確度(du)高等優點，隨著 X 射(she)線熒(ying)(ying)光(guang)光(guang)譜分析(xi)(xi)技術的不斷(duan)推廣，利用(yong) X 射(she)線熒(ying)(ying)光(guang)光(guang)譜儀分析(xi)(xi)儀檢測已(yi)成為很(hen)多行業質量控制的主要手段(duan)。
產品(pin)型號：EDX 8000H廠商(shang)性質：生產廠家更(geng)新(xin)時間：2023-07-20訪 問 量： 726詳細介紹
| 產地 | 國產 |
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EDX 8000H真空型X熒光光譜儀具有制樣(yang)簡單、分(fen)(fen)析(xi)(xi)速度快、分(fen)(fen)析(xi)(xi)含量范圍寬、重現性好、準確度高等優點，隨著 X 射線(xian)熒光光譜(pu)分(fen)(fen)析(xi)(xi)技術的不斷推廣，利用 X 射線(xian)熒光光譜(pu)儀分(fen)(fen)析(xi)(xi)儀檢測(ce)已成為很多(duo)行業質量控(kong)制的主要手(shou)段。
分析方法
有損分析(xi)光(guang)譜法：AAS、ICP、AFS 在(zai)前處理方面(mian)跟化學滴定法相差(cha)不多，都必須把樣品制成溶液，其對微量(liang)元素(su)分析(xi)精度(du)高(gao)，要(yao)求分析(xi)測試人員素(su)質(zhi)高(gao)專業(ye)性強、測試時間短、人為誤差(cha)少等特點(dian)。用于(yu)實驗室環境(jing)條件下。
EDX 8000H真空型X熒光光譜儀技術參數
元素分析范圍 : 鈉（Na）~ 鈾（U）
分析元素含量范圍 :PPM~99.99%（不同材質，分析范圍不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
環境溫度 :15-30℃
同時分析元素 : 一次可同時分析幾十種元素
測試時間 :50-200s
電源 : 交流 220V±5v，建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率 :129±5eV
樣品腔尺寸 :400*340*80mm
儀器尺寸：700*510*336mm
儀器重量：56kg
分析精度(du)：0.05%（含量高(gao)于(yu) 96% 以(yi)上(shang)的精品，21 次測(ce)試穩定性）
高真空系統、高分(fen)辨率SDD硅漂移數字(zi)多道(dao)型電制冷探測器
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