簡要描述：x熒光光譜(pu)檢測(ce)儀性能優勢：下照式：可滿足各種形狀樣品的(de)(de)測(ce)試需(xu)求；準(zhun)(zhun)直器和(he)濾(lv)光片：多(duo)種準(zhun)(zhun)直器和(he)濾(lv)光片的(de)(de)電動切(qie)換，滿足各種測(ce)試方(fang)式的(de)(de)應用；移(yi)動平臺：精細(xi)的(de)(de)手(shou)動移(yi)動平臺，方(fang)便定位測(ce)試點；高分辨率探測(ce)器：提高分析的(de)(de)準(zhun)(zhun)確性。
產(chan)品型(xing)號：A-550廠商性質：生產廠家更新(xin)時間：2023-12-12訪 問 量： 3249詳細介紹
x熒光光譜檢測儀核心優勢：
核心部件整(zheng)套進口
1. 高壓電(dian)源：功率(lv)50 W、電(dian)壓0 -50 KV、電(dian)流0-1000uA。8小時穩定性≤0.05%。
2. X射線管(guan)(guan)(guan)：功率50W、管(guan)(guan)(guan)電(dian)壓5-50KV 、管(guan)(guan)(guan)電(dian)流0-1000uA；長壽(shou)命(ming)X射線管(guan)(guan)(guan)。
3. 探測器：原裝美(mei)國(guo)Amptek硅漂移SDD探頭，分辨率低至129eV±5eV，能量線性和能量分辨率俱佳，高峰背比。
4. 信(xin)號處理(li)器：采用進口信(xin)號處理(li)器，適應高分(fen)辨率和高計數(shu)率，自(zi)調放大倍數(shu)，道數(shu)： 4096。
美(mei)國丹納赫和我司共同研發的X熒光分(fen)析軟件中文版，該軟件融合(he)經驗系數(shu)法(fa)、理論α系數(shu)法(fa)、線性擬合(he)、二(er)次曲線、強度校(xiao)正、含(han)量校(xiao)正等多種分(fen)析方法(fa)，全面保證測試數(shu)據(ju)的準確性。
x熒光光譜檢測儀儀器配置：
| 系統標配 | 1. 數字多道型(xing)SDD探測器 2. X射線源 3. 高壓(ya)電源 4. 性噪(zao)比電子線路系統 5. 光路(lu)增強(qiang)系統 6. 8準(zhun)直+5濾(lv)光片 7. 數字多道分析器 8. 抽真空系統 9. 品牌噴墨打印機 10. 品牌計算機 11. X熒光全元(yuan)素分析軟(ruan)件(jian) 12. 樣品杯、保(bao)險絲 13. 光(guang)譜(pu)專用穩壓電源（選配(pei)） |
| 系統選配 | 1. 光(guang)譜(pu)專用(yong)研磨機(ji)（選配(pei)） 2. 光譜專用熔樣機（選配） 3. 光譜專(zhuan)用制粉機(ji)（選配） 4. 熔樣鉑金坩堝（選(xuan)配） 5. 光譜儀專用壓片(pian)機（選配） |
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